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涂层测厚仪采用磁测和涡流两种测厚方法

更新时间:2022-03-18      浏览次数:1502
  涂层厚度的测量方法主要有:楔形切割法、光切割法、电解法、厚度差测量法、称重法、X射线荧光法、β射线背散射法、电容法、磁测量法和涡流测量法等。这些方法中的前五种是破坏性测试。涂层测厚仪采用磁测和涡流两种测厚方法,可无损测量磁性金属基材(如钢、铁、合金、硬磁钢)上非磁性涂层(如锌、铝、铬、铜、橡胶、油漆等)的厚度。可进行零点校准和两点校准,探头的系统误差可通过基本校准方法进行校正。
 

涂层测厚仪

 

  1、精度高:测量范围0-2000um,精度≤±(3%)读数+2μm),测量数据与进口涂层测厚仪一致。
  2、综合测量:可以无损测量磁性基体上非磁性涂层的厚度和非磁性基体上非导电涂层的厚度。
  3、操作简单:0.5秒快速测量,无需校准,只需调零,只需按键,操作非常简单。
  4、体积小:主机与探头一体化设计,体积小,便于手持携带。
  5、使用寿命长:探头采用红宝石探头,极耐磨耐腐蚀,可确保仪器长期有效使用。
  涂层测厚仪有两种测量模式:连续测量模式和单次测量模式。它有两种工作模式:直接模式和组模式。具有删除功能:删除测量中的单个可疑数据,或删除存储区中的所有数据重新测量。
  涂层测厚仪测量原理:
  1、磁性测厚法:当探头与金属基体表面的涂层接触时,由于非磁性涂层的存在,探头与磁性金属基体形成闭合磁路。涂层的厚度可以通过测量磁路磁阻的变化来计算。
  2、涡流测厚法:利用高频交流电在线圈中产生的电磁场,当探头与镀层接触时,在金属基体上产生涡流并对线圈产生反馈作用。涂层的厚度可以通过测量反馈效应的大小得出。
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