膜厚校准片用于X射线测厚仪，在测量金属镀层厚度和建立测试档案时的标准化校准。即膜厚测试中常用的标准曲线法是测量已知厚度或成分的标准样品，根据荧光X射线能量强度与相应涂层厚度的对应关系得到标准曲线。该标准曲线用于测量涂层样品以获得涂层厚度或组成比。使用测厚仪检测质量和控制成本，在PCB、五金电镀和半导体行业发挥着非常重要的作用。
膜厚校准片适用于实验室、生产线和现场。方便的是在基材、表面处理或形状上建立涂层厚度标准，是调整涂层测厚仪（薄膜测厚仪）校准，减少测量误差，保证精度的理想方法。每个校准件都有一个序列号，可以追溯到原厂。校准片规格有：12.5微米µm、25微米、50微米、75微米、125微米、175微米、250微米、500微米、1000微米；（实际膜厚值会略有不同，具体数值会标注在每一片校准片的标签上）。
膜厚校准片应用领域：
1、检测电子电镀、五金电镀、PCB板、led支架等电镀层的厚度。
2、测量镀金、镀锌、镀钯、镀铬、镀铜、镀银、镀锡、镀镍、锌镍合金等。
3、实测镀层范围：0.03μm～35μm。
4、可测量单层、双层、多层及合金镀层，不限于基材。
5、被测镀层种类有：镀金、镀锌、镀钯、镀铬、镀铜、镀银、镀锡、镀镍、镀锌镍合金等。
6、可测量单层、双层、多层及合金镀层，不限于基材。
更新时间：2022-05-24 
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